XJ4810型/XJ4810A型半导体管特性图示仪采用示波管显示半导体器件的各种特性曲线，并测量其静态参数。本仪器具有二簇曲线显示，双向集电极扫描电路，可以对被测半导体器件的特司长进行对比分析，便于对管或配件配对。本仪器IR测量达200nA/div，选配扩展装置后，VC可达5KV；可测试CMOS及TTL门电路传输特性；可对场效应管进行配对或对管测试；可测试三端稳压管特性。
QT2型半导体管特性图示仪可测量二极管、三极管的低频直流参数，*大集电极电流超过50A，能满足500VA以下器件的测试。本机附有高压测装置，可对5KV以下的二极管、三极管进行击穿电压及反向漏电脑测试。其测试电流*高灵敏度可达0.5μA/div。
XJ4810 XJ4810A晶体管图示仪
QT2晶体管图示仪
QT2、XJ4810、XJ4810A半导体管特性图示仪参数区别
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XJ4810
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XJ4810A
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QT2
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集电极扫描信号
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输出电压范围及电流容量
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--
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0~5V 10A
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0~10V 20A（平均值）
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0~10V 5A
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0~10V 50A（脉冲阶梯）
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0~50V 1A
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0~50V 10A（平均值）
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0~100V 0.5A
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0~100V 5A（平均值）
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0~500V 0.1A
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0~500V 0.5A（平均值）
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0~5KV 5mA（*大）
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可选配3KV, 5KV高压测试台
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基极阶梯信号
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阶梯电流
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0.2μA/级～50mA/级
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0.2μA/级～100mA/级
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1μA/级～200mA/级
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分17档
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分18档
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分17档
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阶梯电压
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0.05V级～1V/级
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0.1V级～2V/级
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0.05V级～1V/级
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分5档
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分5档
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分5档
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Y轴偏转系数
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集电极电流
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10μA/div～0.5A/div
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10μA/div～1A/div
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1μA/div～5A/div
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分15档
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分16档
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分21档
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二极管电流
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0.2μA/div～5μA/div，分5档
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1μA/div～500μA/div，分9档
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倍率
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×0.1
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×0.5
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X轴偏转系数
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集电极电压
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0.05V/div～50V/div，分10档
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10mV/div～50V/div，分12档
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二极管电压
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0.05V/div～1V/div，分5档
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100V/div～500V/div，分3档
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二族显示
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二簇曲线左右分列显示并可左右位移
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不详
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一般性能
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适应电源
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AC220V±10% 50Hz±4%
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视在功率
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约50VA（非测试状态）
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约80VA
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约80VA(*大功率)
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约300VA(*大功率)
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外形尺寸
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320B×220H×400Dmm
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300B×408H×520Dmm
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净重约
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17kg
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30kg
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XJ4810 XJ4810A 可通过选配扩展装置增加功能：
1. XJ27102/XJ27102A型高压测试装置
XJ27102型3KV/XJ27102A型5KV测试装置与XJ4810/XJ4810A主机配合使用，
能测试3KV或5KV以内的半导体器件的反向电压。
2. XJ27100型场效应管配对测试装置
本装置与XJ4810/XJ4810A主机配合使用，能对国内、外不同类型的场效应管
进行单管或对管测试。
3. XJ27104型VMOS管特性测试装置
本装置与XJ4810/XJ4810A主机配合使用，能对国内、外不同类型VMOS管的
静态参数进行测试，显示其特性曲线，并可测出其阈门电压。
4. XJ27101型数字集成电路电压传输特性测试装置
本装置与XJ4810/XJ4810A主机配合使用，能测试CMOS、TTL数字集成电路
电压传输特性，不仅可判别被测器件功能是否正常，还可测出其开门电压、
关门电压的重要参数。
5. XJ27103型三端集成稳压器特性测试装置
本装置与XJ4810/XJ4810A主机配合使用，能测试“78、79系列”三端集成
稳压的静态输入特性曲线及负载特性曲线。
6. XJ27105型SOT-23封装器件测试装置
本装置与XJ4810/XJ4810A/XJ4832/XJ4830/XJ4822/XJ4822B/XJ4828/XJ4829
主机配合使用，能对国内、外不同类型SOT-23封装的贴片半导体器件的静态参数
进行测试，显示其特性曲线。
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